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TESCAN S9000X 超高分辨型氙离子源双束扫描电镜
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TESCAN Xe等离子双束扫描电镜(FIB-SEM)
TESCAN FERA3氙等离子超高速双束FIB系统(GM)分析潜力高亮度肖特基发射可获得高分辨率、高电流和低噪声的图像选配的In-Beam二次电子探头可获取超高分辨率图像三透镜大视野观察(Wide
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TESCAN大样品仓双束电镜 (FIB-SEM)
TESCAN FERA3氙等离子超高速双束FIB系统(XM)分析潜力高亮度肖特基发射可获得高分辨率,高电流和低噪声的图像选配的In-Beam二次电子探头可获取超高分辨率图像三透镜大视野观察
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TESCAN S8000X 高分辨氙离子源双束扫描电镜
,通用的Xe等离子体FIB-SEM平台,可实现大批量样品表征和无Ga样品制备和改性。 广泛的离子束电流范围提供了无与伦比的FIB多功能性与传统的Ga-FIB相比,铣削速度提高了50倍大FIB电流
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TESCAN LYRA3镓等离子双束FIB系统(GM)
,使得对一些不方便进行切割等处理的样品的观察成为可能。TESCAN LYRA3镓等离子双束FIB系统基于高分辨率肖特基FEG-SEM镜筒和高性能聚焦离子束镜筒,LYRA3 FIB-SEM是一款SEM与
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TESCAN S9000G 超高分辨型镓离子源型双束扫描电镜
TESCAN S9000G 新一代超高分辨镓离子FIB-SEMTESCAN S9000G 是一款镓离子源的 FIB-SEM 系统,适用于超薄 TEM 样品制备和其它具有挑战性的纳米加工任务,这些任务
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TESCAN S8000G 高分辨镓离子型双束扫描电镜
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TESCAN S9000 超高分辨型场发射扫描电镜
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TESCAN CLARA 超高分辨场发射扫描电镜
),能以最大效率在任何着陆电压下收集二次电子和背散射电子信号,且不会有明显的信号损失,这样即使在低着陆电压下也能够非常简单的进行超高分辨二次电子成像。TESCAN CLARA 使用了实时电子束追踪技术
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TESCAN 聚焦离子束扫描电镜 LYRA3(XM)
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